インターネプコンジャパン2025〈1/22~1/24〉に出展します
インターネプコンジャパン2025に出展します
当日は、パワーデバイス・パワーモジュール・車載向けカスタムICに幅広く対応した、オリジナル装置を実機展示いたします。
会場: 東京ビックサイト 東展示棟
小間番号: E12-8
期間: 2024年1月24日(水)~1月26日(金)
10:00~17:00
【展示装置】
[トライテンプハンドラ NDM0101]
・-40℃±1℃~150℃±1℃で安定した特性検査が可能です。
・6面外観検査を搭載し、出荷前検査工程に対応。
・独自の熱媒体を採用し、機能性・メンテナンス性を損なうことなく、低フットプリントを実現。
・AEC-Q100に対応した信頼性試験装置への置き換えも可能。
[パワーモジュール用特性外観検査装置 NDM0109]
・大型パワーモジュールの高速・高精度搬送を実施します。
・タクトタイム:1.5sec/1pcs以下 (UPH2,400以上)
・特性試験はオリジナル測定子を採用
・リーフスプリングによる接圧コントロールを実施。
[テーピング後外観検査装置 TM-1000]
・エンボステープ内に収納された電子部品の外観検査を高速で行います。
・タクトタイム:40msec/1pcs以下
・リード長、リードピッチ、欠け、クラック及びカバーテープシール痕検査など18項目以上の外観検査が可能。
・卓上型のコンパクトサイズで、設置場所を選びません。
・良品カット(虚報率)は0.2%以下。
[テーピング後外観検査装置 TM-300]
・エンボステープ内に収納された電子部品の外観検査を高速で行います。
・テープ上面、下面2方向からの外観検査が可能。
・検査内容はTM-1000+ワーク裏面及び、エンボステープポケットの変形。
・NGラベル自動貼り付け機能を搭載し、完全自動化。
・バーコードリーダーによる品種切替、シリアルに紐づけての画像保存など、機能カスタムも可能です。
来場者登録はこちら↓↓↓
https://www.nepconjapan.jp/tokyo/ja-jp/register.html?code=1220005009013657-KEK
皆様のご来場、心よりお待ち致しております。