常温・高温・低温対応テストハンドラ
本機はトレイから供給された電子デバイスを、昇温部または冷却部に搬送。設定温度に達したデバイスを測定部に搬送し電気特性検査を行い、測定結果に基き分類収納を行う装置です。3温度の測定環境を構築し、信頼性試験、AEC-Q100にも対応しています。
供給 | ローダがトレー、スティック、パーツフィーダ etcでユーザ仕様で乗せ替え可能。 |
各測定ユニットが自由自在に入れ替え可能。 | |
不必要な測定ユニットを取外し、即時、測定流動が可能。 | |
測定温度条件 | 常温23℃ |
高温150℃ | |
低温-40℃ | |
温度精度±3℃の一貫測定が可能。 |